Statistique industrielle - Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP

Statistique industrielle - Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP
35,99€

ebook

Achat immédiat, sans abonnement.

Le saviez vous ?

Lisez votre e-book sur ordinateur, tablette et mobile grâce aux applications :


Vivlio et Cultura
partenaires pour vos
lectures numériques
Tout est synchronisé
grâce à votre compte
Cultura
Une aide en ligne pour
vous accompagner

Coups de cœur Cultura

Tous les passeurs de culture peuvent partager leurs découvertes !
Tu as aimé ce produit ? Partage dès maintenant ton coup de coeur :

loader
loader
loader
loader
loader
loader
loader
loader

description

descriptif du fournisseur
La quantité de données collectées et stockées par les entreprises n’a jamais été aussi importante qu’aujourd’hui, entraînant un bond en avant de la statistique industrielle, discipline visant à utiliser ces données dans le but de contrôler, fiabiliser et optimiser les procédés industriels.
Après avoir détaillé l’évaluation et la maîtrise des systèmes de mesure, le concept d’estimation et son lien avec l’échantillonnage, les plans d’échantillonnage, les cartes de contrôle et l’aptitude des procédés, cet ouvrage présente 7  cas d’étude issus de problèmes industriels dans des domaines aussi variés que la microélectronique, l’aéronautique, l’industrie pharmaceutique et l’automobile. Le lien entre la maîtrise statistique des procédés et la maintenance prédictive fait aussi l’objet d’une analyse concrète.
 
Statistique industrielle - Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP

Statistique industrielle - Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP


On vous recommande avec votre achat
Statistique industrielle - Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP

Statistique industrielle - Systèmes de mesure, inférence, échantillonnage et MSP

35,99
+